Cell Metric® X 單克(ke)隆成(cheng)像驗(yan)證(zheng)儀特(te)點

提(ti)供(gong)專有(you)的人(ren)工(gong)智(zhi)能驅動的單(dan)細(xi)胞(bao)識(shi)別(bie)技術(shu)，可在(zai)鋪(pu)板(ban)時準(zhun)確(que)檢測(ce)出(chu)入(ru)孔的單(dan)個(ge)細(xi)胞(bao)，在(zai)獲(huo)得高(gao)效鋪(pu)板(ban)結果(guo)的同(tong)時，提(ti)供(gong)鋪(pu)板(ban)率數(shu)據，輔助(zhu) Day 0 確(que)定單(dan)克(ke)隆孔，與 Day 0 整孔成像數(shu)據形(xing)成雙(shuang)鎖(suo)證(zheng)據(ju)，使克(ke)隆證(zheng)據(ju)更(geng)加(jia)確鑿(zao)。

使用自(zi)有(you)單細(xi)胞(bao)成(cheng)像技術(shu)，提(ti)供(gong)了背(bei)景均勻(yun)、無(wu)拼縫(feng)、無(wu)邊緣效應的高(gao)質量的整(zheng)孔圖(tu)像，並(bing)通過人工智(zhi)能識(shi)別(bie) Day 0 單細(xi)胞(bao)、細(xi)胞(bao)團(tuan)及(ji)雜質(zhi)等，給(gei)出(chu) Day 0 單細(xi)胞(bao)、多(duo)細(xi)胞(bao)及(ji)無細(xi)胞(bao)孔，幫(bang)助(zhu)實(shi)驗(yan)人在(zai) Day 0 排(pai)除(chu)非(fei)單克(ke)隆孔。此外(wai)，基於人工智(zhi)能的準(zhun)確(que)的克(ke)隆團(tuan)匯合度(du)數(shu)據，對(dui)評估克(ke)隆質(zhi)量起到重(zhong)要(yao)作(zuo)用。新(xin)壹代(dai) Cell Metric X 可提(ti)供(gong)多(duo)層(ceng)焦距(ju)圖(tu)像，使單細(xi)胞(bao)確(que)定無疑(yi)；全(quan)自動(dong)定(ding)焦(jiao)技術(shu)解(jie)放(fang)雙(shuang)手，無(wu)需(xu)設置(zhi)拍照(zhao)參數(shu)，壹鍵(jian)開拍。

能夠追蹤(zong)單克(ke)隆生(sheng)長、進行單(dan)克(ke)隆源(yuan)性驗(yan)證(zheng)，還(hai)能(neng)夠進行活(huo)細(xi)胞(bao)計(ji)數(shu)、蛋(dan)白滴(di)度(du)及(ji)關鍵(jian)質量屬性（CQA）的測(ce)定。結合 STUDIUS 智(zhi)能軟件(jian)平(ping)臺，生(sheng)成(cheng)準(zhun)確的克(ke)隆排(pai)序(xu)參數(shu)（如標(biao)準化滴度(du)（Normalized Titer）和特(te)定產(chan)率(lv)（QP）），自動(dong)對(dui)克(ke)隆排(pai)序(xu)，從而(er)篩選出(chu)目標克(ke)隆，及(ji)時且無誤(wu)。