透(tou)射(she)電(dian)鏡 、掃(sao)描(miao)電(dian)鏡、反(fan)射(she)電(dian)鏡三種(zhong)常(chang)見(jian)電(dian)子顯微(wei)鏡原(yuan)理(li)及應用介(jie)紹(shao)

電(dian)子顯微(wei)鏡是科研(yan)實(shi)驗室的重(zhong)要實驗設備，那麽(me)電(dian)子顯微(wei)鏡有哪些種(zhong)類(lei)呢(ne)？
其(qi)實(shi)，常(chang)見(jian)的類型(xing)主要有3種(zhong)：透(tou)射(she)電(dian)鏡 TEM、掃(sao)描(miao)電(dian)鏡SEM以及反(fan)射(she)電(dian)鏡REM。

壹、透射(she)電(dian)子顯微(wei)鏡 TEM
透射(she)電(dian)子顯微(wei)鏡是電(dian)子顯微(wei)鏡的原(yuan)始類型(xing)，它的主要原(yuan)理(li)是將(jiang)高(gao)壓(ya)電(dian)子束引導(dao)至(zhi)樣品以照亮(liang)樣品並(bing)產(chan)生(sheng)樣品的放(fang)大圖(tu)像(xiang)。由(you)於(yu)透(tou)射(she)電(dian)鏡具有原(yuan)位(wei)觀(guan)察(cha)、高(gao)分(fen)辨顯像(xiang)等(deng)功能(neng)，適宜(yi)觀(guan)察(cha)光學(xue)顯微(wei)鏡觀(guan)察(cha)不(bu)到的細微(wei)結構。比(bi)如(ru)：細胞、組(zu)織分(fen)析(xi)、晶體結構等。

透射(she)電(dian)鏡顯微(wei)成像(xiang)原(yuan)理(li)是：通(tong)過(guo)鎢絲(si)電(dian)極(ji)的陰極(ji)發射(she)電(dian)子束，再用陽極(ji)加(jia)速電(dian)子束，當電(dian)子束穿過(guo)標(biao)本(ben)時(shi)，它(ta)會發生(sheng)散(san)射(she)，並(bing)提供(gong)標(biao)本(ben)微(wei)觀(guan)結構的圖(tu)像(xiang)，可(ke)以通(tong)過顯微(wei)鏡的物鏡觀(guan)察(cha)到。其中(zhong)的靜電(dian)和電(dian)磁透(tou)鏡均有助於(yu)電(dian)子束的聚焦(jiao)。

可(ke)以通(tong)過將圖(tu)像(xiang)投(tou)影到熒(ying)光硫(liu)化鋅(xin)塗(tu)層(ceng)屏(ping)幕(mu)上來(lai)檢查空(kong)間(jian)變化。可(ke)用於(yu)記(ji)錄(lu)圖(tu)像(xiang)的另(ling)壹(yi)種(zhong)方法是將(jiang)照相膠片(pian)放(fang)入(ru)電(dian)子束中(zhong)，電(dian)子束將記(ji)錄(lu)圖(tu)像(xiang)。也(ye)可(ke)以使(shi)用數碼相機在計(ji)算機屏(ping)幕(mu)上實(shi)時顯示(shi)圖(tu)像(xiang)。球(qiu)面(mian)像(xiang)差傳(chuan)統上限(xian)制了(le)透射(she)電(dian)子顯微(wei)鏡的分(fen)辨率(lv)。然而(er)，近些年來的技術(shu)改(gai)進(jin)，可(ke)以通(tong)過球面(mian)像(xiang)差的硬件校(xiao)正(zheng)來提高(gao)分(fen)辨率(lv)。因此，現(xian)在可(ke)以生(sheng)成(cheng)分(fen)辨率(lv)低於(yu) 0.5  埃(ai)、放(fang)大倍率(lv)超(chao)過 5000 萬(wan)倍的圖(tu)像(xiang)。

透(tou)射(she)顯微(wei)鏡適宜的樣品厚度，通(tong)常(chang)小於(yu) 100 nm。因此，大多數(shu)生(sheng)物標(biao)本(ben)需(xu)要經過化學(xue)固(gu)定和脫(tuo)水(shui)，才能(neng)嵌入聚(ju)合物樹(shu)脂中(zhong)，以方便(bian) TEM的  觀(guan)察(cha)。



二(er)、掃(sao)描(miao)電(dian)子顯微(wei)鏡 SEM
掃(sao)描(miao)電(dian)鏡的應用較為普遍，掃(sao)描(miao)電(dian)子顯微(wei)鏡原(yuan)理(li)是：通(tong)過(guo)光柵掃(sao)描(miao)技術(shu)來(lai)產(chan)生(sheng)標(biao)本(ben)的放(fang)大圖(tu)像(xiang)。它(ta)引導(dao)聚焦(jiao)的電(dian)子束穿過(guo)樣品的矩(ju)形區(qu)域，當電(dian)子束通過(guo)時(shi)會產(chan)生(sheng)能(neng)量損失。該能(neng)量會被轉換(huan)成熱(re)、光、二(er)次電(dian)子等(deng)能(neng)量同時反(fan)向散(san)射(she)電(dian)子。此時通(tong)過軟(ruan)件系(xi)統進(jin)行(xing)翻譯轉換(huan)後(hou)得到清晰的標(biao)本(ben)圖(tu)像(xiang)信(xin)息(xi)。從(cong)成(cheng)像(xiang)原(yuan)理(li)分(fen)析(xi)，掃(sao)描(miao)電(dian)子顯微(wei)鏡的分(fen)辨率(lv)會比(bi)透射(she)電(dian)子顯微(wei)鏡的分(fen)辨率(lv)稍(shao)差。但它的優勢在於(yu)可(ke)以利(li)用表面(mian)處理(li)，創(chuang)建(jian)大樣本(ben)的圖(tu)像(xiang)，尺(chi)寸可(ke)達幾(ji)厘米(mi)，並(bing)且具有較(jiao)大的景深。因此，來自(zi) SEM 的圖(tu)像(xiang)可(ke)以較(jiao)好(hao)地表(biao)達樣品的真(zhen)實(shi)形狀。

此外，壹(yi)種(zhong)稱(cheng)為環境(jing)掃(sao)描(miao)電(dian)子顯微(wei)鏡 (ESEM) 的特(te)定類型(xing)的 SEM 能(neng)夠對(dui)潮(chao)濕(shi)或包(bao)含在氣(qi)體(ti)中(zhong)的樣品進(jin)行(xing)成像(xiang)。這(zhe)增(zeng)加(jia)了顯微(wei)鏡可(ke)以使(shi)用的可(ke)使(shi)用範圍。

三、反(fan)射(she)電(dian)子顯微(wei)鏡 REM
反(fan)射(she)電(dian)子顯微(wei)鏡涉及檢測(ce)從(cong)被(bei)檢查的樣品反(fan)射(she)的彈性(xing)散射(she)電(dian)子束。反(fan)射(she)高(gao)能(neng)電(dian)子衍(yan)射(she) (RHEED) 和反(fan)射(she)高(gao)能(neng)損失光譜(pu) (RHELS) 技術(shu)通(tong)常用於(yu)此類顯微(wei)鏡。

由於(yu)電(dian)子顯微(wei)鏡的原(yuan)理(li)及用途也(ye)各(ge)不(bu)相同，所以應(ying)用領(ling)域(yu)也(ye)不(bu)同。

比(bi)如(ru)：TEM透(tou)射(she)電(dian)鏡廣(guang)泛(fan)應(ying)用於(yu)科研(yan)實(shi)驗室主要用於(yu)來(lai)研(yan)究(jiu)細菌、組(zu)織切片(pian)和其(qi)他微(wei)生(sheng)物。另(ling)外(wai)，SEM 還(hai)經(jing)常(chang)用於(yu)材(cai)料(liao)科學(xue)研(yan)究(jiu)的測試和故障分(fen)析(xi)，檢(jian)查高(gao)溫下(xia)的超(chao)導體(ti)、合金(jin)強度和納米管，最(zui)終(zhong)影響電(dian)子產(chan)品對航(hang)空(kong)航(hang)天(tian)業(ye)的影響。掃(sao)描(miao)電(dian)子顯微(wei)鏡還(hai)常(chang)用於(yu)法醫(yi)調(tiao)查。比(bi)如(ru)：通(tong)過(guo) SEM 所提(ti)供(gong)的放(fang)大倍數，來分(fen)析(xi)證(zheng)據(ju)類(lei)型(xing)的來源(yuan)，從(cong)而(er)得出(chu)與(yu)法律(lv)目的相關的調(tiao)查結論。 

   蘇(su)州阿(e)爾(er)法生(sheng)物十三年專註於(yu)生(sheng)命(ming)科學(xue)領(ling)域(yu)實(shi)驗室設備及實驗(yan)室耗(hao)材(cai)和試劑(ji)供應(ying)領(ling)域(yu)，包(bao)括振蕩培養箱(xiang)、生(sheng)物反(fan)應器、移液器、離心(xin)機、臺(tai)式(shi)離(li)心(xin)機、純水(shui)系(xi)統、生(sheng)物安(an)全櫃(gui)、顯微(wei)鏡 、細胞掃(sao)描(miao)成像(xiang)顯微(wei)鏡等儀器設備以及細胞培養試劑(ji)、細胞培養耗(hao)材(cai)、分(fen)子(zi)生(sheng)物學(xue)耗(hao)材(cai)等(deng)，集實(shi)驗室設計規(gui)劃(hua)、實驗(yan)室儀器設備、生(sheng)物實(shi)驗器材(cai)供(gong)應(ying)、售後(hou)服(fu)務為壹體(ti)，使(shi)您(nin)的實驗(yan)室采購(gou)更加(jia)方便(bian)快捷(jie)